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頭掃描原子力顯微鏡

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頭掃描原子力顯微鏡

FM-Nanoview LS-AFM

 

 國(guó)內(nèi)首家實(shí)現(xiàn)樣品保持不動(dòng),探針移動(dòng)掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡;

 樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大樣品檢測(cè)

 樣品臺(tái)可拓展性強(qiáng),非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實(shí)現(xiàn)原位檢測(cè);

 電動(dòng)控制樣品移動(dòng)臺(tái)和升降臺(tái)可任意編程多點(diǎn)位置實(shí)現(xiàn)快速自動(dòng)化檢測(cè);

 龍門架式掃描頭設(shè)計(jì),大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺(tái);
 馬達(dá)自動(dòng)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞剑Wo(hù)探針及樣品;
 高倍輔助光學(xué)顯微定位,實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針以及樣品掃描區(qū)域;

 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%。



技術(shù)參數(shù)

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應(yīng)用案例

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