樣品來源:沈陽化工大學
樣品名稱: 薄膜
測試要求:形貌
1.0 薄膜樣品 A
掃描區(qū)域: 薄膜納米銀部分 掃描范圍:10um*10um
首頁 關于我們 產品中心 新聞動態(tài) 應用案例 售后服務 聯(lián)系我們
版權所有:蘇州飛時曼精密儀器有限公司 ICP備案號: 蘇ICP備14017326號-3AFM、原子力顯微鏡、原子力顯微鏡廠家